半導體膜厚儀的原理是什么？
半導體膜厚儀是一種用于精確測量半導體材料表面薄膜厚度的儀器。其工作原理主要基于光學反射、透射以及薄膜干涉現(xiàn)象。當光線照射到半導體薄膜表面時，部分光線會被薄膜反射，部分則會透射過去。反射光和透射光的光程.. 全文
我們該怎么與鐵片反射率檢測儀廠家廠家合作呢？ 幫忙解答一下
選擇鐵片反射率檢測儀廠家廠家合作建議可以就近選擇。還方便去工廠進行實地考察，觀察產(chǎn)品是否符合標準。 全文
哪位大仙，急急急！透光率測試儀大概價錢是多少？有人知道嗎？
購買透光率測試儀的話，價格只是單方面的,除了價格，還是要綜合考慮很多方面因素的，比如質量、售后、服務情況什么的，買到合適的是好的。 全文
LPKF TMG3塑料透光率測試儀的優(yōu)點
LPKFTMG3塑料透光率測試儀具備諸多顯著優(yōu)點，使其成為塑料材料光學性能評估中的優(yōu)選工具。以下是其主要優(yōu)點的歸納：1.**高精度測量**：該儀器采用高精度的激光源和光電探測器技術組合而成，能夠準確反.. 全文
